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Taschenbuch. Zustand: Neu. Field Emission Scanning Electron Microscopy | New Perspectives for Materials Characterization | Nicolas Brodusch (u. a.) | Taschenbuch | SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology | xii | Englisch | 2017 | Springer | EAN 9789811044328 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
