James moyne (9 Ergebnisse)
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Zustand: New. In.
Run-to-Run Control in Semiconductor Manufacturing
Boning, Duane S. Ed(s): Moyne, James; del Castillo, Enrique; Hurwitz, A.M.
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Zustand: New. Offers analyses of run-to-run (R2R) control. Through manufacturing case studies, this book provides justification for and demonstrates the benefits of run-to-run control, and offers the know-how and direction for incorporating R2R control into readers' manufacturing capabilities. Editor(s): Moyne, James; del Castil…lo, Enrique; Hurwitz, A.M. Num Pages: 368 pages, 27 black & white tables. BIC Classification: TGP; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 158 x 22. Weight in Grams: 630. . 2000. 1st Edition. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
- Hardcover
Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna
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Gebunden. Zustand: New. James Moyne, Enrique del Castillo, Arnon M. HurwitzRun-to-run (R2R) control is cutting-edge technology that allows modification of a product recipe between machine runs, thereby minimizing process drift, shift, and variability-and with them, costs. It.
Run to Run Control in Semiconductor Manufacturing
Moyne, James (Editor)/ Del Castillo, Enrique (Editor)/ Hurwitz, Arnon Max (Editor)
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Hardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 348 pages. 9.00x6.00x0.75 inches. In Stock.
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - Run-to-Run (R2R) control is cutting-edge technology that allows modification of a product recipe between machine 'runs,' thereby minimizing process drift, shift, and variability and with them, costs. Its effectiveness has been demonstrated in a variety of processes, such as vapor phase epitaxy, lith…ography, and chemical mechanical planarization. The only barrier to the semiconductor industry's widespread adoption of this highly effective process control is a lack of understanding of the technology. Run-to-Run Control in Semiconductor Manufacturing overcomes that barrier by offering in-depth analyses of R2R control. TOC:Introduction.- What is Run-to-Run Control - Target Audience.- Purpose of this Book.- Outline.- Background.- History of the Development of Run-to-Run Control.- Developing a Run-to-Run Solution.- Developing and Deploying Run-to-Run Solutions: Integrating Control.- Run-to-Run Solution Conclusions.- Summary of Run-to-Run Development and Deployment Process.- Deploying Run-to-Run Control in a Timely and Cost Effective Manner.- Overcoming Barriers to Deployment.- Future Research and Development Issues.- References.
Run to Run Control in Semiconductor Manufacturing
Moyne, James (Editor)/ Del Castillo, Enrique (Editor)/ Hurwitz, Arnon Max (Editor)
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Hardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 348 pages. 9.00x6.00x0.75 inches. In Stock.
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Buch. Zustand: Neu. Run-To-Run Control in Semiconductor Manufacturing | James Moyne (u. a.) | Buch | Einband - fest (Hardcover) | Englisch | 2000 | CRC Press | EAN 9780849311789 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu.
