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Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon.
Anbieter: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ ILAB VDA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
XIV, 171 p. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Stamped. Sprache: Englisch.
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Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 60,60
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Robustness And Usability In Modern Design Flows
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 79,13
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 2015 edition. 171 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Advanced BDD Optimization
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, 2016
ISBN 10: 3319356100 ISBN 13: 9783319356105
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book describes automated debugging approaches for the bugs and the faults which appear in different abstraction levels of a hardware system. The authors employ a transaction-based debug approach to systems at the transaction-level, asserting the correct relation of transactions. The automated debug approach for design bugs finds the potential fault candidates at RTL and gate-level of a circuit. Debug techniques for logic bugs and synchronization bugs are demonstrated, enabling readers to localize the most difficult bugs. Debug automation for electrical faults (delay faults)finds the potentially failing speedpaths in a circuit at gate-level. The various debug approaches described achieve high diagnosis accuracy and reduce the debugging time, shortening the IC development cycle and increasing the productivity of designers.Describes a unified framework for debug automation used at both pre-silicon and post-silicon stages;Provides approaches for debug automation of a hardware system at different levels of abstraction, i.e., chip, gate-level, RTL and transaction level;Includes techniques for debug automation of design bugs and electrical faults, as well as an infrastructure to debug NoC-based multiprocessor SoCs.
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Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, 2014
ISBN 10: 3319093088 ISBN 13: 9783319093086
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book describes automated debugging approaches for the bugs and the faults which appear in different abstraction levels of a hardware system. The authors employ a transaction-based debug approach to systems at the transaction-level, asserting the correct relation of transactions. The automated debug approach for design bugs finds the potential fault candidates at RTL and gate-level of a circuit. Debug techniques for logic bugs and synchronization bugs are demonstrated, enabling readers to localize the most difficult bugs. Debug automation for electrical faults (delay faults)finds the potentially failing speedpaths in a circuit at gate-level. The various debug approaches described achieve high diagnosis accuracy and reduce the debugging time, shortening the IC development cycle and increasing the productivity of designers.Describes a unified framework for debug automation used at both pre-silicon and post-silicon stages;Provides approaches for debug automation of a hardware system at different levels of abstraction, i.e., chip, gate-level, RTL and transaction level;Includes techniques for debug automation of design bugs and electrical faults, as well as an infrastructure to debug NoC-based multiprocessor SoCs.
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Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 109,48
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Robustness and Usability in Modern Design Flows
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Robustness and Usability in Modern Design Flows
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 115,59
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Advanced BDD Optimization
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 140,02
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Robustness and Usability in Modern Design Flows | Görschwin Fey (u. a.) | Taschenbuch | xviii | Englisch | 2010 | Springer | EAN 9789048176625 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Advanced BDD Optimization
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 164,46
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Robustness and Usability in Modern Design Flows
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The size of technically producible integrated circuits increases continuously. But the ability to design and verify these circuits does not keep up with this development. Therefore, today's design ow has to be improved to achieve a higher productivity. In this book the current design methodology and ver- cation methodology are analyzed, a number of de ciencies are identi ed, and solutions are suggested. Improvements in the methodology as well as in the underlying algorithms are proposed. An in-depth presentation of preliminary concepts makes the book self-contained. Based on this foundation major - sign problems are targeted. In particular, a complete tool ow for Synthesis for Testability of SystemC descriptions is presented. The resulting circuits are completely testable and test pattern generation in polynomial time is possible. Veri cation issues are covered in even more detail. A whole new paradigm for formal design veri cation is suggested. This is based upon design und- standing, the automatic generation of properties, and powerful tool support for debugging failures. All these new techniques are empirically evaluated and - perimental results are provided. As a result, an enhanced design ow is created that provides more automation (i.e. better usability) and reduces the probability of introducing conceptual errors (i.e. higher robustness). Acknowledgments We would like to thank all members of the research group for computer arc- tecture in Bremen for the helpful discussions and the great atmosphere during work and research.
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Test digitaler Schaltkreise (German Edition)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 92,38
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Test Digitaler Schaltkreise
Sprache: Deutsch
Verlag: Oldenbourg Wissenschaftsverlag, 2014
ISBN 10: 3486720139 ISBN 13: 9783486720136
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 238 pages. German language. 9.45x6.69x0.55 inches. In Stock.
