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High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability.
Anbieter: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ ILAB VDA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
XVIII, 193 p. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch.
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Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 108,90
EUR 13,80 Versand
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 108,90
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High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 114,98
EUR 13,80 Versand
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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High Quality Test Pattern Generation: Robust Algorithms Using Boolean Satisfiability
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 154,53
EUR 11,52 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 193 pages. 9.50x6.50x0.75 inches. In Stock.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability | Stephan Eggersglüß (u. a.) | Taschenbuch | xviii | Englisch | 2014 | Springer | EAN 9781489988478 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Zustand: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | After producing a chip, the functional correctness of the integrated circuit has to be checked. Otherwise products with malfunctions would be delivered to customers, which is not acceptable for any company. Many algorithms for "Automatic Test Pattern Generation" (ATPG) have been proposed in the last 30 years. But due to the ever increasing design complexity, new techniques have to be developed that can cope with today's circuits. While classical approaches are based on backtracking on the circuit structure, several approaches based on "Boolean Satisfiability" (SAT) have been proposed since the early 80s. In Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines, we give an introduction to ATPG. The basic concept and classical ATPG algorithms are reviewed. Then, the formulation as a SAT problem is considered. As the underlying engine, modern SAT solvers and their use on circuit related problems are comprehensively discussed. Advanced techniques for SAT-based ATPG are introduced and evaluated in the context of an industrial environment. The chapters of the book cover efficient instance generation, encoding of multiple-valued logic, usage of various fault models, and detailed experiments on multi-million gate designs. The book describes the state of the art in the field, highlights research aspects, and shows directions for future work.
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Test digitaler Schaltkreise (German Edition)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 91,89
EUR 13,80 Versand
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Test Digitaler Schaltkreise
Sprache: Deutsch
Verlag: Oldenbourg Wissenschaftsverlag, 2014
ISBN 10: 3486720139 ISBN 13: 9783486720136
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 116,01
EUR 14,40 Versand
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 238 pages. German language. 9.45x6.69x0.55 inches. In Stock.
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Test digitaler Schaltkreise
Sprache: Deutsch
Verlag: De Gruyter Oldenbourg, De Gruyter, 2014
ISBN 10: 3486720139 ISBN 13: 9783486720136
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Embedded systems are assuming key control functions in everyday life. Systemic failure in the energy supply or the transport sector could lead to fatal consequences. Users place great reliance on the error-free function of such systems. Guaranteeing the functional capability of digital circuits is the goal of testing - and this aim must be achieved at low cost, since every chip has to be tested separately after production.; Eingebettete Systeme übernehmen zentrale Steueraufgaben im täglichen Leben. In der Energieversorgung oder im Transportwesen würde ein Ausfall der Systeme fatale Auswirkungen haben. Der Nutzer verlässt sich aber auf ein fehlerfreies Funktionieren des Systems. Die Funktionstüchtigkeit der Schaltkreise zu garantieren, ist das Ziel des Testens - und das mit geringen Kosten, da jeder Chip nach der Produktion separat getestet werden muss.
