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Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy: Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices (Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials)
Buch 135 von 203: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical MaterialsAnbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy: Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices (Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials)
Buch 135 von 203: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical MaterialsAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy | Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices | Yasuo Cho | Taschenbuch | Einband - fest (Hardcover) | Englisch | 2020 | Woodhead Publishing | EAN 9780128172469 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.
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Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy: Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices
Buch 135 von 203: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical MaterialsEUR 225,18
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Versand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbKartoniert / Broschiert. Zustand: New. Presents an in-depth look at the SNDM materials characterization technique by its inventor Reviews key materials applications, such as measurement of ferroelectric materials at the nanoscale and measurement of semiconductor materials and d.
