Bosio alberto (21 Ergebnisse)
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In den WarenkorbLibro vintage. Argomento: Saggi. Autore: Di Sisto Monica - Zoratti Alberto - Bosio Roberto. Editore: EMI. Luogo: Bologna. Anno: 2005. Formato: in-8°. Pagg: 89. Legatura: Brossura. Conservazione: ottima. Dalla quarta di copertina: "Dal 1995 l'Organizzazione mondiale del commercio (WTO) è stata definita dall'establishment neoliber…ale globale come "il gioiello mancante nella corona del multilateralismo" ed è stata chiamata a scrivere "la costituzione economica globale". Prefazione di Antonio Tricarico.
Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi; Girard, Patrick; Pravossoudovitch, Serge; Virazel, Arnaud
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Approximate Computing and its Impact on Accuracy, Reliability and Fault-Tolerance (Synthesis Lectures on Engineering, Science, and Technology)
Rodrigues, Gennaro S.; Kastensmidt, Fernanda L.; Bosio, Alberto
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2023
Serie: Buch 49 von 110 - Synthesis Lectures on Engineering, Science, and Technology
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Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi; Girard, Patrick; Pravossoudovitch, Serge; Virazel, Arnaud
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Approximate Computing and Its Impact on Accuracy, Reliability and Fault-tolerance
Rodrigues, Gennaro S./ Kastensmidt, Fernanda L./ Bosio, Alberto
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Nature, 2023
Serie: Buch 49 von 110 - Synthesis Lectures on Engineering, Science, and Technology
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Approximate Computing and Its Impact on Accuracy, Reliability and Fault-tolerance
Rodrigues, Gennaro S./ Kastensmidt, Fernanda L./ Bosio, Alberto
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Nature, 2022
Serie: Buch 49 von 110 - Synthesis Lectures on Engineering, Science, and Technology
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Hardcover. Zustand: Brand New. 147 pages. 9.45x6.61x0.51 inches. In Stock.
Sprache: Englisch
Verlag: The Institution of Engineering and Technology, 2020
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Approximate Computing Techniques | From Component- to Application-Level | Alberto Bosio (u. a.) | Taschenbuch | xxi | Englisch | 2023 | Springer | EAN 9783030947071 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com |… Anbieter: preigu.
Approximate Computing Techniques: From Component- to Application-level
Bosio, Alberto (Editor)/ Ménard, Daniel (Editor)/ Sentieys, Olivier (Editor)
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Advanced Test Methods for SRAMs | Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies | Alberto Bosio (u. a.) | Taschenbuch | xv | Englisch | 2014 | Humana | EAN 9781489983145 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[…dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book serves as a single-source reference to the latest advances in Approximate Computing (AxC), a promising technique for increasing performance or reducing the cost and power consumption of a computing system. The authors discuss the different…AxC design and validation techniques, and their integration. They also describe real AxC applications, spanning from mobile to high performance computing and also safety-critical applications.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Memories are particularly prone to defects since they exploit the technology limits to get the highest density. This book is an inva…luable guide to the testing and diagnostics of the latest generation of SRAM, one of the most widely applied types of memory. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called 'static faults,' but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies. These new fault models, referred to as 'dynamic faults', are not covered by classical test solutions and require the dedicated test sequences presented in this book.
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Memories are particularly prone to defects since they exploit the technology limits to get the highest density. This book is an invaluable…guide to the testing and diagnostics of the latest generation of SRAM, one of the most widely applied types of memory. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called 'static faults,' but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies. These new fault models, referred to as 'dynamic faults', are not covered by classical test solutions and require the dedicated test sequences presented in this book.
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Hardcover. Zustand: Brand New. 300 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
Approximate Computing Techniques: From Component- to Application-level
Bosio, Alberto (Editor)/ Menard, Daniel (Editor)/ Sentieys, Olivier (Editor)
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Hardcover. Zustand: Brand New. 552 pages. 9.25x6.10x1.19 inches. In Stock.
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book serves as a single-source reference to the latest advances in Approximate Computing (AxC), a promising technique for increasing performance or reducing the cost and power consumption of a computing system. The authors discuss the different AxC des…ign and validation techniques, and their integration. They also describe real AxC applications, spanning from mobile to high performance computing and also safety-critical applications.
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Gebunden. Zustand: New. Inhaltsverzeichnisrnrnn Part I: Design techniques to improve the resilience of computing systemsn Chapter 1: Technological layern Chapter 2: Design techniques to improve the resilience of computing systems: logic layer.
Silicon Systems for Wireless Lan
Bosio, Alberto (Editor)/ Leger, Gildas (Editor)/ Stamenkovic, Zoran (Editor)
Sprache: Englisch
Verlag: World Scientific Pub Co Inc, 2020
Serie: Buch 7 von 7 - Advanced Series in Electrical and Computer Engineering
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