Alberto bosio (25 Ergebnisse)
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Libro vintage. Argomento: Saggi. Autore: Di Sisto Monica - Zoratti Alberto - Bosio Roberto. Editore: EMI. Luogo: Bologna. Anno: 2005. Formato: in-8°. Pagg: 89. Legatura: Brossura. Conservazione: ottima. Dalla quarta di copertina: "Dal 1995 l'Organizzazione mondiale del commercio (WTO) è stata definita dall'establishment neoliber…ale globale come "il gioiello mancante nella corona del multilateralismo" ed è stata chiamata a scrivere "la costituzione economica globale". Prefazione di Antonio Tricarico.
Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi; Girard, Patrick; Pravossoudovitch, Serge; Virazel, Arnaud
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Approximate Computing and its Impact on Accuracy, Reliability and Fault-Tolerance (Synthesis Lectures on Engineering, Science, and Technology)
Rodrigues, Gennaro S.; Kastensmidt, Fernanda L.; Bosio, Alberto
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2023
Serie: Synthesis Lectures on Engineering, Science, and Technology, Buch 49 von 110. Buch 49 von 110 - Synthesis Lectures on Engineering, Science, and Technology
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Zustand: New. Provides a single-source reference to the state-of-the art of approximate computing (AxC)Presents a global picture of the approximate computing paradigm, at various levels of abstractionDiscusses real AxC applications, such as Approximate C.
Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi; Girard, Patrick; Pravossoudovitch, Serge; Virazel, Arnaud
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Approximate Computing and Its Impact on Accuracy, Reliability and Fault-tolerance
Rodrigues, Gennaro S./ Kastensmidt, Fernanda L./ Bosio, Alberto
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Nature, 2023
Serie: Synthesis Lectures on Engineering, Science, and Technology, Buch 49 von 110. Buch 49 von 110 - Synthesis Lectures on Engineering, Science, and Technology
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Paperback. Zustand: Brand New. 147 pages. 9.45x6.61x0.34 inches. In Stock.
Approximate Computing and Its Impact on Accuracy, Reliability and Fault-tolerance
Rodrigues, Gennaro S./ Kastensmidt, Fernanda L./ Bosio, Alberto
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Nature, 2022
Serie: Synthesis Lectures on Engineering, Science, and Technology, Buch 49 von 110. Buch 49 von 110 - Synthesis Lectures on Engineering, Science, and Technology
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Hardcover. Zustand: Brand New. 147 pages. 9.45x6.61x0.51 inches. In Stock.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Approximate Computing Techniques | From Component- to Application-Level | Alberto Bosio (u. a.) | Taschenbuch | xxi | Englisch | 2023 | Springer | EAN 9783030947071 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com |… Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Advanced Test Methods for SRAMs | Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies | Alberto Bosio (u. a.) | Taschenbuch | xv | Englisch | 2014 | Humana | EAN 9781489983145 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[…dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Approximate Computing Techniques: From Component- to Application-level
Bosio, Alberto (Editor)/ Ménard, Daniel (Editor)/ Sentieys, Olivier (Editor)
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Paperback. Zustand: Brand New. 552 pages. 9.25x6.10x1.13 inches. In Stock.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Memories are particularly prone to defects since they exploit the technology limits to get the highest density. This book is an inva…luable guide to the testing and diagnostics of the latest generation of SRAM, one of the most widely applied types of memory. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called 'static faults,' but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies. These new fault models, referred to as 'dynamic faults', are not covered by classical test solutions and require the dedicated test sequences presented in this book.
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Memories are particularly prone to defects since they exploit the technology limits to get the highest density. This book is an invaluable…guide to the testing and diagnostics of the latest generation of SRAM, one of the most widely applied types of memory. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called 'static faults,' but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies. These new fault models, referred to as 'dynamic faults', are not covered by classical test solutions and require the dedicated test sequences presented in this book.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book serves as a single-source reference to the latest advances in Approximate Computing (AxC), a promising technique for increasing performance or reducing the cost and power consumption of a computing system. The authors discuss the different…AxC design and validation techniques, and their integration. They also describe real AxC applications, spanning from mobile to high performance computing and also safety-critical applications.
- Hardcover
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Hardcover. Zustand: Brand New. 300 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
Approximate Computing Techniques: From Component- to Application-level
Bosio, Alberto (Editor)/ Menard, Daniel (Editor)/ Sentieys, Olivier (Editor)
- Hardcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
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Hardcover. Zustand: Brand New. 552 pages. 9.25x6.10x1.19 inches. In Stock.
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book serves as a single-source reference to the latest advances in Approximate Computing (AxC), a promising technique for increasing performance or reducing the cost and power consumption of a computing system. The authors discuss the different AxC des…ign and validation techniques, and their integration. They also describe real AxC applications, spanning from mobile to high performance computing and also safety-critical applications.
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Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna
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Gebunden. Zustand: New. Inhaltsverzeichnisrnrnn Part I: Design techniques to improve the resilience of computing systemsn Chapter 1: Technological layern Chapter 2: Design techniques to improve the resilience of computing systems: logic layer.
Silicon Systems for Wireless Lan
Bosio, Alberto (Editor)/ Leger, Gildas (Editor)/ Stamenkovic, Zoran (Editor)
Sprache: Englisch
Verlag: World Scientific Pub Co Inc, 2020
Serie: Advanced Series in Electrical and Computer Engineering, Buch 7 von 7. Buch 7 von 7 - Advanced Series in Electrical and Computer Engineering
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Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
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Hardcover. Zustand: Brand New. 400 pages. 9.50x6.75x1.00 inches. In Stock.
Sprache: Englisch
Verlag: Institution Of Engineering & Technology Okt 2020, 2020
- Hardcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - Reliability has always been a major concern in designing computing systems. However, the increasing complexity of such systems has led to a situation where efforts for assuring reliability have become extremely costly, both for the design of solutions for the mitigation of possible faults, and for t…he reliability assessment of such techniques. Cross-layer reliability is fast becoming the preferred solution. In a cross-layer resilient system, physical and circuit level techniques can mitigate low-level faults. Hardware redundancy can be used to manage errors at the hardware architecture layer. Eventually, software implemented error detection and correction mechanisms can manage those errors that escaped the lower layers of the stack. This book presents state-of-the-art solutions for increasing the resilience of computing systems, both at single levels of abstraction and multi-layers. The book begins by addressing design techniques to improve the resilience of computing systems, covering the logic layer, the architectural layer and the software layer. The second part of the book focuses on cross-layer resilience, including coverage of physical stress, reliability assessment approaches, fault injection at the ISA level, analytical modelling for cross-later resiliency, and stochastic methods. Cross-Layer Reliability of Computing Systems is a valuable resource for researchers, postgraduate students and professional computer architects focusing on the dependability of computing systems.
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Zustand: New.
