Advances in X-Ray Analysis: Volume 37 - Hardcover

 
9780306449017: Advances in X-Ray Analysis: Volume 37
Hardcover
ISBN 10: 0306449013 ISBN 13: 9780306449017
Verlag: Springer, 1994

Inhaltsangabe

89 articles organized under the following section heads: Impact of Computers on Xray Analysis. Applications of Whole Pattern Fitting: Structure Determination, Phase Identification, Lattice Parameters. Search/Match Methods, Phase Identification. Diffraction from Single Crystals and Epitaxial Films. Xray Characterization of Films and Surface Layers. Strain and Stress Determination, Xray Fractography, Diffraction Peak Broadening Analysis. Advances in Detectors and Counting Electronics. XRD Techniques and Instrumentation, Nonambient Applications, Texture, other Applications. Xray Optics, Monochromators and Synthetic Multilayers. Total Reflection XRF Applications and Instrumentation, other XRF Techniques and Instrumentation. Mathematical Techniques in Xray Spectrometry. Geological and other Applications of XRS. Index.

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Verlag
Springer
Erscheinungsdatum
1994
Sprache
Englisch
ISBN 10 
0306449013
ISBN 13 
9780306449017
Einband
Gebundene Ausgabe
Anzahl der Seiten
756
Herausgeber
Gilfrich John V., Goldsmith C.C., Huang Ting C., Jenkins Ron, Noyan I. Cev
Kontakt zum Hersteller
ROXIO
https://www.also.com/ec/cms5/en_6000/6000/index.jsp

Friedrich-Karl-Str. 9
Hamburg
22391
Deutschland

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