Testing of Digital Systems. Dieser Artikel ist nicht verfügbar.
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2003
- Erstausgabe
- Hardcover
- Gebraucht
Anbieter: Better World Books Ltd, Dunfermline, Vereinigtes KönigreichBetter World Books Ltd
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Bestandsnummer des Verkäufers 16456042-6
- Titel
- Testing of Digital Systems
- Autor
- Jha, Niraj, Gupta, Sandeep
- Verlag
- Cambridge University Press
- Erscheinungsjahr
- 2003
- Zustand
- Very Good
- Einband
- Hardcover
- Sprache
- Englisch
- ISBN-10
- 0521773563
- ISBN-13
- 9780521773560
- Auflage
- 1st Edition.
- Artikelgewicht
- 4,817 Pfund
- Abmessungen
- N/A
The most comprehensive and wide ranging book on the testing of semiconductor devices and systems.
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Über die Autorin bzw. den Autor
Niraj Jha is Professor of Electrical Engineering at Princeton University and head of the Center of Embedded System-on-a-Chip Design, where his current research is focussed on the synthesis and testing of these devices. He is a fellow of IEEE, associate editor of IEEE Transactions on VLSI Systems and The Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA) and a recipient of the AT&T Foundation award and the NEC preceptorship award for research excellence.
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