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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbZustand: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,650grams, ISBN:9780195092042.
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 284 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This revised edition has been updated to include important new research in scanning force microscopy since the publication of the original edition in 1991. The bibliography has been thoroughly revised. Basic theory, instrumentation and applications are discussed.
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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces (Oxford Series in Optical and Imaging Sciences)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic and Atomic Forces: 5 (Oxford Series in Optical and Imaging Sciences)
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
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In den WarenkorbZustand: New. This revised edition has been updated to include important new research in scanning force microscopy since the publication of the original edition in 1991. The bibliography has been thoroughly revised. Basic theory, instrumentation and applications are discussed. Series: Oxford Series in Optical & Imaging Sciences. Num Pages: 288 pages, halftones, line drawings, tables. BIC Classification: PDND; PHV. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 161 x 21. Weight in Grams: 667. . 1994. Revised. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
