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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces (Oxford Series in Optical & Imaging Sciences, Band 5) - Hardcover
Inhaltsangabe
This edition updates the survey of the many rapidly developing subjects concerning the mapping of a variety of forces across surfaces, including basic theory, instrumentation, and applications. It also includes important new research in STM and a thoroughly revised bibliography.
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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic and Atomic Forces
Verlag:
Oxford University Press Inc, 1994
ISBN 10: 019509204X
ISBN 13: 9780195092042
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Hardback. Zustand: Good. Since its invention in 1982, scanning tunneling microscopy (STM) has enabled users to obtain images reflecting surface electronic structure with atomic resolution. This technology has proved indispensable as a characterization tool with applications in surface physics, chemistry, materials science, bio-science, and data storage media. It has also shown great potential in areas such as the semiconductor and optical quality control industries. Scanning Force Microscopy, Revised Edition updates the earlier edition's survey of the many rapidly developing subjects concerning the mapping of a variety of forces across surfaces, including basic theory, instrumentation, and applications. It also includes important new research in STM and a thoroughly revised bibliography. Academic and industrial researchers using STM, or wishing to know more about its potential, will find this book an excellent introduction to this rapidly developing field. Artikel-Nr. 00109087151
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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces
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Oxford University Press, 1994
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ISBN 13: 9780195092042
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Zustand: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,650grams, ISBN:9780195092042. Artikel-Nr. 9884117
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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 284 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This revised edition has been updated to include important new research in scanning force microscopy since the publication of the original edition in 1991. The bibliography has been thoroughly revised. Basic theory, instrumentation and applications are discussed. Artikel-Nr. 2017699/202
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Scanning Force Microscopy : With Applications to Electric, Magnetic and Atomic Forces
Verlag:
Oxford University Press, 1994
ISBN 10: 019509204X
ISBN 13: 9780195092042
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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic and Atomic Forces: 5 (Oxford Series in Optical and Imaging Sciences)
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Zustand: New. This revised edition has been updated to include important new research in scanning force microscopy since the publication of the original edition in 1991. The bibliography has been thoroughly revised. Basic theory, instrumentation and applications are discussed. Series: Oxford Series in Optical & Imaging Sciences. Num Pages: 288 pages, halftones, line drawings, tables. BIC Classification: PDND; PHV. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 161 x 21. Weight in Grams: 667. . 1994. Revised. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland. Artikel-Nr. V9780195092042
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