Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces (Oxford Series in Optical & Imaging Sciences, Band 5) - Hardcover
Inhaltsangabe
This edition updates the survey of the many rapidly developing subjects concerning the mapping of a variety of forces across surfaces, including basic theory, instrumentation, and applications. It also includes important new research in STM and a thoroughly revised bibliography.
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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces
Verlag:
Oxford University Press, 1994
ISBN 10: 019509204X
ISBN 13: 9780195092042
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 284 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This revised edition has been updated to include important new research in scanning force microscopy since the publication of the original edition in 1991. The bibliography has been thoroughly revised. Basic theory, instrumentation and applications are discussed. Artikel-Nr. 2017699/202
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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic and Atomic Forces: 5 (Oxford Series in Optical and Imaging Sciences)
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Zustand: New. This revised edition has been updated to include important new research in scanning force microscopy since the publication of the original edition in 1991. The bibliography has been thoroughly revised. Basic theory, instrumentation and applications are discussed. Series: Oxford Series in Optical & Imaging Sciences. Num Pages: 288 pages, halftones, line drawings, tables. BIC Classification: PDND; PHV. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 161 x 21. Weight in Grams: 667. . 1994. Revised. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland. Artikel-Nr. V9780195092042
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