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Random Access Memories of a Goldfish Swimming Through the Chaos of Existence
Sprache: Englisch
ISBN 10: 9369534547 ISBN 13: 9789369534548
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 4,42
EUR 7,50 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 4 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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Random Access Memories
ISBN 13: 0888837168625
Anbieter: World of Books (was SecondSale), Montgomery, IL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Good. Item in good condition. Textbooks may not include supplemental items i.e. CDs, access codes etc.
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Zustand: very good. Gut/Very good: Buch bzw. Schutzumschlag mit wenigen Gebrauchsspuren an Einband, Schutzumschlag oder Seiten. / Describes a book or dust jacket that does show some signs of wear on either the binding, dust jacket or pages.
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Random Access Memories of a Life Well Spent
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 15,05
EUR 13,82 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Random Access Memories
Anbieter: Gallix, Gif sur Yvette, Frankreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Neuf.
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Daft Punk: Random Access Memories (Piano, Vocal & Guitar / Album Songbook)
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 24,94
EUR 11,53 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 96 pages. 11.89x8.90x0.32 inches. In Stock.
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Random Access Memories of a Life Well Spent
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 23,66
EUR 13,82 Versand
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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Random Access Memories: Piano / Vocal / Guitar
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 27,55
EUR 11,53 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 96 pages. 12.00x9.00x0.25 inches. In Stock.
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Daft Punk - Random Access Memories
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. 2013. Paperback. . . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Random Access Memories Drumles
ISBN 13: 0196588083426
Anbieter: World of Books (was SecondSale), Montgomery, IL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Good. Item in good condition. Textbooks may not include supplemental items i.e. CDs, access codes etc.
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High-k materials in Dynamic Random Access Memories (DRAM): Atomic scale engineering of HfO2-based dielectrics for future DRAM applications
Sprache: Englisch
Verlag: Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften, 2011
ISBN 10: 3838130189 ISBN 13: 9783838130187
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 51,14
EUR 13,82 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Ferroelectric Random Access Memories. Fundamentals and Applications.
Buch 8 von 37: Topics in Applied PhysicsSprache: Englisch
Verlag: Berlin/ Heidelberg, Springer Berlin., 2004
ISBN 10: 3540407189 ISBN 13: 9783540407188
Anbieter: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ ILAB VDA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
2004. 16 x 24 cm. XIII, 291 S. XIII, 291 p. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. (Topics in Applied Physics). Sprache: Englisch.
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Ferroelectric Random Access Memories. Fundamentals and Applications.
Sprache: Englisch
Verlag: Berlin, Springer, 2004
Anbieter: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. C-02152 Ex-library with Stamp and Library-Signature in Good Condition, Some Traces of Use Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Daft Punk: Random Access Memories | Songbook für Klavier, Gesang, Gitarre | Music Sales | Taschenbuch | Buch | Englisch | 2013 | Bosworth Musikverlag | EAN 9781783052578 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.
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Testing Static Random Access Memories : Defects, Fault Models And Test Patterns (frontiers In Electronic Testing)
Buch 38 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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THE SCIENCE OF PHASE CHANGE RANDOM ACCESS MEMORIES (PCRAM) | Semiconductor memory
Sprache: Englisch
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2011
ISBN 10: 384430147X ISBN 13: 9783844301472
Taschenbuch. Zustand: Neu. THE SCIENCE OF PHASE CHANGE RANDOM ACCESS MEMORIES (PCRAM) | Semiconductor memory | Joseph Karanja | Taschenbuch | 92 S. | Englisch | 2011 | LAP LAMBERT Academic Publishing | EAN 9783844301472 | Verantwortliche Person für die EU: BoD - Books on Demand, In de Tarpen 42, 22848 Norderstedt, info[at]bod[dot]de | Anbieter: preigu.
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Daft Punk : Random Access Memories
Sprache: Englisch
Verlag: Hal Leonard Europe Limited, 2013
ISBN 10: 1783052570 ISBN 13: 9781783052578
Zustand: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Zustand: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Seiten: 256 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Phil was raised in the rural town of Clovis, CA where he attended elementary, junior high, and high school. He attended California Baptist College in Riverside, CA before returning to Clovis and completing his college degree at Fresno State College. He was finishing his junior year when he had to declare a major. After seeing a lot of Biology students going on field trips in the nearby Sierra Nevada Mountains, he decided a degree in Biology would be right for him. He wanted to teach Life Sciences in high school or become a Park Ranger with the National Park Service (NPS). There were many twists and turns in his career after college. He was hired as an intern in the Kings Canyon Unified School District teaching first fifth grade, then sixth grade. He was instrumental in developing an environmental education program for his sixth graders. He also worked seasonally as a Park Ranger with the NPS for seven summers and also worked weekends at Kings Canyon National Park for two years while teaching full time. After the war in Vietnam, there were so many veterans applying for full time park ranger positions that he was unable to break into the NPS full time. About that same time, the Corps of Engineers (COE) was beginning to hire park rangers and natural resource managers for their many lakes around the country. He was able to spend most of the rest of his career in the field of Resources Management in WA, OR, and ID. Along the way, he took on various teaching assignments with Walla Walla Community College and the University of Idaho. He helped develop and teach the COE's first enforcement classes nationwide. Phil is retired now and living in Dallas, OR. He decided he wanted to share some of his life experiences with friends, relatives, and others who might be interested in the work he chose for his career.Cover Photography : LEE JUILLERAT.
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Daft Punk : Random Access Memories
Sprache: Englisch
Verlag: Hal Leonard Europe Limited, 2013
ISBN 10: 1783052570 ISBN 13: 9781783052578
Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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High-k materials in Dynamic Random Access Memories (DRAM) | Atomic scale engineering of HfO2-based dielectrics for future DRAM applications
Sprache: Englisch
Verlag: Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften, 2015
ISBN 10: 3838130189 ISBN 13: 9783838130187
Taschenbuch. Zustand: Neu. High-k materials in Dynamic Random Access Memories (DRAM) | Atomic scale engineering of HfO2-based dielectrics for future DRAM applications | Piotr Dudek | Taschenbuch | 112 S. | Englisch | 2015 | Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften | EAN 9783838130187 | Verantwortliche Person für die EU: OmniScriptum GmbH & Co. KG, Bahnhofstr. 28, 66111 Saarbrücken, info[at]akademikerverlag[dot]de | Anbieter: preigu.
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Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns (Frontiers in Electronic Testing)
Buch 38 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 114,22
EUR 13,82 Versand
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Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns (Frontiers in Electronic Testing, 26)
Buch 38 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 114,22
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EUR 29,62
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Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns
Buch 38 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 148,81
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 240 pages. 9.25x6.10x0.55 inches. In Stock.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Testing Static Random Access Memories | Defects, Fault Models and Test Patterns | Said Hamdioui | Taschenbuch | xx | Englisch | 2010 | Springer US | EAN 9781441954305 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Testing Static Random Access Memories : Defects, Fault Models and Test Patterns
Buch 38 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Testing Static Random Access Memories covers testing of one of the important semiconductor memories types; it addresses testing of static random access memories (SRAMs), both single-port and multi-port. It contributes to the technical acknowledge needed by those involved in memory testing, engineers and researchers. The book begins with outlining the most popular SRAMs architectures. Then, the description of realistic fault models, based on defect injection and SPICE simulation, are introduced. Thereafter, high quality and low cost test patterns, as well as test strategies for single-port, two-port and any p-port SRAMs are presented, together with some preliminary test results showing the importance of the new tests in reducing DPM level. The impact of the port restrictions (e.g., read-only ports) on the fault models, tests, and test strategies is also discussed. Features: -Fault primitive based analysis of memory faults, -A complete framework of and classification memory faults, -A systematic way to develop optimal and high quality memory test algorithms, -A systematic way to develop test patterns for any multi-port SRAM, -Challenges and trends in embedded memory testing.
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Testing Static Random Access Memories : Defects, Fault Models and Test Patterns
Buch 38 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Testing Static Random Access Memories covers testing of one of the important semiconductor memories types; it addresses testing of static random access memories (SRAMs), both single-port and multi-port. It contributes to the technical acknowledge needed by those involved in memory testing, engineers and researchers. The book begins with outlining the most popular SRAMs architectures. Then, the description of realistic fault models, based on defect injection and SPICE simulation, are introduced. Thereafter, high quality and low cost test patterns, as well as test strategies for single-port, two-port and any p-port SRAMs are presented, together with some preliminary test results showing the importance of the new tests in reducing DPM level. The impact of the port restrictions (e.g., read-only ports) on the fault models, tests, and test strategies is also discussed. Features: -Fault primitive based analysis of memory faults, -A complete framework of and classification memory faults, -A systematic way to develop optimal and high quality memory test algorithms, -A systematic way to develop test patterns for any multi-port SRAM, -Challenges and trends in embedded memory testing.
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Computer Memories 2: Static Random-Access Memory (ISTE Invoiced)
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 186,29
EUR 7,50 Versand
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In den WarenkorbZustand: New.
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Computer Memories 2: Static Random-Access Memory (ISTE Invoiced)
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 234,21
EUR 8,95 Versand
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In den WarenkorbZustand: New. 2026. 1st Edition. hardcover. . . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Zustand: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 424 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
