Testing Static Random Access Memories : Defects, Fault Models And Test Patterns (frontiers In Electronic Testing)

Buch 38 von 40: Frontiers in Electronic Testing

Hamdioui, Said

ISBN 10: 1402077521 ISBN 13: 9781402077524
Verlag: Springer, 2004
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Hardcover

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