Nanometer scale defect detection using von dahoo pierre richard (4 Ergebnisse)
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2)
Dahoo, Pierre-Richard; Pougnet, Philippe; El Hami, Abdelkhalak
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Dahoo, Pierre Richard/ Pougnet, Philippe/ El Hami, Abdelkhalak
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Zustand: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Num Pages: 316 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TBN; TGMT; TTB. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 164 x 22. Weight in Grams: 622. . 2016. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.…
