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modeling characterization microwave power von aaen peter (6 Ergebnisse)
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Modeling and Characterization of RF and Microwave Power FETs
Verlag: Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521870666 ISBN 13: 9780521870665
Sprache: Englisch
Anbieter: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 49,23
Währung umrechnenEUR 12,81 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
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Modeling and Characterization of RF and Microwave Power FETs (The Cambridge RF and Microwave Engineering Series)
Verlag: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521336171 ISBN 13: 9780521336178
Sprache: Englisch
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 104,12
Währung umrechnenEUR 5,77 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Modeling and Characterization of RF and Microwave Power Fets
Verlag: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521336171 ISBN 13: 9780521336178
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 109,08
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This 2007 book was the first to be devoted to the compact modeling of RF power FETs.
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Modeling and Characterization of RF and Microwave Power FETs (The Cambridge RF and Microwave Engineering Series)
Verlag: Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521870666 ISBN 13: 9780521870665
Sprache: Englisch
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 155,01
Währung umrechnenEUR 5,77 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Modeling and Characterization of RF and Microwave Power FETs
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 209,26
Währung umrechnenEUR 11,59 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 388 pages. 9.75x7.00x1.00 inches. In Stock.
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Modeling and Characterization of RF and Microwave Power FETs
Verlag: Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521870666 ISBN 13: 9780521870665
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 226,69
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbBuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This is a book about the compact modeling of RF power FETs. In it, you will find descriptions of characterization and measurement techniques, analysis methods, and the simulator implementation, model verification and validation procedures that are needed to produce a transistor model that can be used with confidence by the circuit designer. Written by semiconductor industry professionals with many years' device modeling experience in LDMOS and III-V technologies, this is the first book to address the modeling requirements specific to high-power RF transistors. A technology-independent approach is described, addressing thermal effects, scaling issues, nonlinear modeling, and in-package matching networks. These are illustrated using the current market-leading high-power RF technology, LDMOS, as well as with III-V power devices. This book is a comprehensive exposition of FET modeling, and is a must-have resource for seasoned professionals and new graduates in the RF and microwave power amplifier design and modeling community. All three authors work in the RF Division at Freescale Semiconductor, Inc., in Tempe Arizona. Peter H. Aaen is Modeling Group Manager, Jaime A. Plá is Design Organization Manager, and John Wood is Senior Technical Contributor responsible for RF CAD and Modeling, and a Fellow of the IEEE.
