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Microscopy of Semiconducting Materials 2007: Proceedings of the 15th Conference, 2-5 April 2007, Cambridge, UK. (=Springer Proceedings in Physics; Vol.120).
Anbieter: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. 512 S. Like new. Shrink wrapped. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1130.
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Microscopy of Semiconducting Materials, 1981 : Proceedings of the Royal Microscopical Society Conference held in St. Catherine's College, Oxford, 6-10 April 1981
Sprache: Englisch
Verlag: The Institute of Physics, Bristol, U.K., 1981
ISBN 10: 0854981519 ISBN 13: 9780854981519
Anbieter: Doss-Haus Books, Redondo Beach, CA, USA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: Very Good. No Jacket. Hardcover 1981 edition. Ex-library book with stamps and labels attached. Binding firm. Pages unmarked and clean. Covers and text in very good condition. Series: Conference Series ;No. 60. [xi, 464 p. : ill. ; 24 cm].
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Zustand: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 812 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Microscopy of Semiconducting Materials 1993, Proceedings of the Royal Microscopical Society Conference Held at Oxford University, 5-8 April 1993 Oxfor
Anbieter: Old Goat Books, Waterloo, ON, Kanada
Verbandsmitglied: IOBA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: Near Fine. Zustand des Schutzumschlags: NF. Jacket Condition: 'NF' Condition: 'NF' Notes: Over 160 papers presented at the eighth conference. B+W illustrations. Cloth boards.
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Microscopy of Semiconducting Materials 1987, Proceedings of the Institute of Physics Conference, Oxford University, April 1987
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 217,90
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Microscopy of Semiconducting Materials: Proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK (Springer Proceedings in Physics, 107)
Buch 13 von 166: Springer Proceedings in PhysicsAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Microscopy of Semiconducting Materials 2007: Proceedings of the 15th Conference, 2-5 April 2007, Cambridge, UK (Springer Proceedings in Physics, 120)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Microscopy of Semiconducting Materials: Proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK (Springer Proceedings in Physics, 107)
Buch 13 von 166: Springer Proceedings in PhysicsAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Microscopy of Semiconducting Materials | Proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK | A. G. Cullis (u. a.) | Taschenbuch | xvi | Englisch | 2010 | Springer | EAN 9783642068706 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Microscopy of Semiconducting Materials : Proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK
Buch 13 von 166: Springer Proceedings in PhysicsSprache: Englisch
Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2010
ISBN 10: 3642068707 ISBN 13: 9783642068706
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This is a long-established international biennial conference series, organised in conjunction with the Royal Microscopical Society, Oxford, the Institute of Physics, London and the Materials Research Society, USA. The 14th conference in the series focused on the most recent advances in the study of the structural and electronic properties of semiconducting materials by the application of transmission and scanning electron microscopy. The latest developments in the use of other important microcharacterisation techniques were also covered and included the latest work using scanning probe microscopy and also X-ray topography and diffraction. Developments in materials science and technology covering the complete range of elemental and compound semiconductors are described in this volume.
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Microscopy of Semiconducting Materials 2007 : Proceedings of the 15th Conference, 2-5 April 2007, Cambridge, UK
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This volume contains invited and contributed papers presented at the conference on 'Microscopy of Semiconducting Materials' held at the University of Cambridge on 2-5 April 2007. The event was organised under the auspices of the Electron Microscopy and Analysis Group of the Institute of Physics, the Royal Microscopical Society and the Materials Research Society. This international conference was the fifteenth in the series that focuses on the most recent world-wide advances in semiconductor studies carried out by all forms of microscopy and it attracted delegates from more than 20 countries. With the relentless evolution of advanced electronic devices into ever smaller nanoscale structures, the problem relating to the means by which device features can be visualised on this scale becomes more acute. This applies not only to the imaging of the general form of layers that may be present but also to the determination of composition and doping variations that are employed. In view of this scenario, the vital importance of transmission and scanning electron microscopy, together with X-ray and scanning probe approaches can immediately be seen. The conference featured developments in high resolution microscopy and nanoanalysis, including the exploitation of recently introduced aberration-corrected electron microscopes. All associated imaging and analytical techniques were demonstrated in studies including those of self-organised and quantum domain structures. Many analytical techniques based upon scanning probe microscopies were also much in evidence, together with more general applications of X-ray diffraction methods.
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EUR 245,71
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In den WarenkorbZustand: New. Gives a complete overview of nanostructures of all types, from quantum dots, wires to nanotubesComplete study of the effects of semiconductor processing treatment such as oxidatorion, nitridation, ion implantation, and annealingProvides an .
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Microscopy of Semiconducting Materials 1987, Proceedings of the Institute of Physics Conference, Oxford University, April 1987 (Institute of Physics Conference Series)
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 282,80
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 820 pages. 9.19x6.40x1.90 inches. In Stock.
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Microscopy of Semiconducting Materials : Proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK
Buch 13 von 166: Springer Proceedings in PhysicsSprache: Englisch
Verlag: Springer, Berlin, Springer, 2006
ISBN 10: 354031914X ISBN 13: 9783540319146
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware - Epitaxy: Wide Band-Gap Nitrides.- Epitaxy: Silicon-Germanium Alloys.- Epitaxy: Growth and Defect Phenomena.- High Resolution Microscopy and Nanoanalysis.- Self-Organised and Quantum Domain Structures.- Processed Silicon and Other Device Materials.- Device Studies.- Scanning Electron and Scanning Probe Advances.
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Microscopy of Semiconducting Materials: 1999 Proceedings of the Institute of Physics Conference held 22-25 March 1999, University of Oxford, UK
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Microscopy of Semiconducting Materials: 1999 Proceedings of the Institute of Physics Conference held 22-25 March 1999, University of Oxford, UK
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 774 pages. 9.75x6.50x2.00 inches. In Stock.
