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hot carrier reliability mos vlsi von leblebici yusuf (3 Ergebnisse)
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Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 227)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 217,23
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Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Hot Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 1993
ISBN 10: 079239352X ISBN 13: 9780792393528
Sprache: Englisch
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 355,71
Währung umrechnenEUR 1,88 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 15 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Addresses the issues related to hot-carrier reliability of MOS VLSI circuits.This book is primarily for use by engineers and scientists who study device and circuit-level reliability in VLSI systems and develop practical reliability measures and models. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 212 pages, biography. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 14. Weight in Grams: 509. . 1993. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
