Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 227)

Leblebici, Yusuf; Sung-Mo (Steve) Kang

ISBN 10: 079239352X ISBN 13: 9780792393528
Verlag: Springer, 1993
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Hardcover

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