Isbn: 9789814630351 - fundamentals of atomic force microscopy - part i: foundations (lessons from nanoscience: a lecture note series, band 4) (11 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2015
Serie: Buch 4 von 9 - Lessons From Nanoscience: A Lecture Notes
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Zustand: Used. pp. 350.
Sprache: Englisch
Verlag: World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2015
Serie: Buch 4 von 9 - Lessons From Nanoscience: A Lecture Notes
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Zustand: Used. pp. 350.
Sprache: Englisch
Verlag: World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2015
Serie: Buch 4 von 9 - Lessons From Nanoscience: A Lecture Notes
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Zustand: New. In.
Sprache: Englisch
Verlag: World Scientific Pub Co Inc, 2015
Serie: Buch 4 von 9 - Lessons From Nanoscience: A Lecture Notes
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 342 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution. The intelligent use of this instrument requires knowledge from many distinct fields of study. These lecture notes aim to provide advanced undergraduates and beginning graduates in all fields of science and engineering with the required knowledge to sensibly use an AFM. Relevant background material is often reviewed in depth and summarized in a pedagogical, self-paced style to provide a fundamental understanding of the scientific principles underlying the use and operation of an AFM.…
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Anbieter: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, DeutschlandBUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer
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Softcover. Zustand: gut. 2015. Fundamentals of Atomic Force Microscopy In deutscher Sprache. pages.
