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9789067644341 - Atomic Force Microscopy in Adhesion Studies (2 Ergebnisse)
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In den WarenkorbZustand: New. J. Drelich, Kash L. MittalSince its discovery, Atomic Force Microscopy (AFM) has become a technique of choice for non-destructive surface characterization with sub-molecular resolution. The AFM has also emerged as a problem-solving tool in applications.
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Atomic Force Microscopy in Adhesion Studies
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware - Over 100 authors contributed to this book, summarizing current status of research on measurements of colloidal particle-solid adhesion and molecular forces, solid surface imaging and mapping, and discussing the contact mechanics models applicable to particle-substrate and particle-particle systems.
