Atomic Force Microscopy in Adhesion Studies

Sprache: Englisch

Verlag: CRC Press, 2005

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J. Drelich, Kash L. MittalSince its discovery, Atomic Force Microscopy (AFM) has become a technique of choice for non-destructive surface characterization with sub-molecular resolution. The AFM has also emerged as a problem-solving tool in applications.

Bestandsnummer des Verkäufers 599123432

Titel
Atomic Force Microscopy in Adhesion Studies
Autor
Drelich, J.
Verlag
CRC Press
Erscheinungsjahr
2005
Zustand
New
Einband
Gebunden
Sprache
Englisch
ISBN-10
906764434X
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9789067644341

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