9786208939458 - controlling the aging of power transistors: reliability challenge: controlling transistor aging and failure under short-circuit conditions von ben salah, tarek; lefebvre, stéphane; othmen, douha (1 Ergebnisse)
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Controlling the aging of power transistors | Reliability Challenge: Controlling transistor aging and failure under short-circuit conditions | Tarek Ben Salah (u. a.) | Taschenbuch | Englisch | 2025 | Our Knowledge Publishing | EAN 9786208939458 | Verantwortliche Person für die EU: SIA OmniScriptum Publ…ishing, Brivibas Gatve 197, 1039 RIGA, LETTLAND, customerservice[at]vdm-vsg[dot]de | Anbieter: preigu.
