9783642445019 - atomic force microscopy based nanorobotics: modelling, simulation, setup building and experiments (springer tracts in advanced robotics, band 71) von xie, hui; onal, cagdas; régnier, stéphane; sitti, metin (3 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2014
Serie: Buch 74 von 153 - Springer Tracts in Advanced Robotics
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Serie: Buch 74 von 153 - Springer Tracts in Advanced Robotics
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics | Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments | Hui Xie (u. a.) | Taschenbuch | xiv | Englisch | 2014 | Springer | EAN 9783642445019 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[…at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2014
Serie: Buch 74 von 153 - Springer Tracts in Advanced Robotics
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The atomic force microscope (AFM) has been successfully used to perform nanorobotic manipulation operations on nanoscale entities such as particles, nanotubes, nanowires, nanocrystals, and DNA since 1990s. There have been many progress on modeling, i…maging, teleoperated or automated control, human-machine interfacing, instrumentation, and applications of AFM based nanorobotic manipulation systems in literature. This book aims to include all of such state-of-the-art progress in an organized, structured, and detailed manner as a reference book and also potentially a textbook in nanorobotics and any other nanoscale dynamics, systems and controls related research and education. Clearly written and well-organized, this text introduces designs and prototypes of the nanorobotic systems in detail with innovative principles of three-dimensional manipulation force microscopy and parallel imaging/manipulation force microscopy.
