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9783540431176 - Noncontact Atomic Force Microscopy (NanoScience and Technology) (4 Ergebnisse)
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Noncontact Atomic Force Microscopy
Anbieter: Rotary Club of Albert Park, Albert Park, VIC, Australien
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Hardcover. Zustand: As New. 439 pages. 8vo. As now copy of this book giving a comprehensive overview of the state-of-the-art of this dynamic force microscopy technique.
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Noncontact Atomic Force Microscopy
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Noncontact Atomic Force Microscopy
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of acantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues.
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Noncontact Atomic Force Microscopy
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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