ISBN: 9783540431176 - noncontact atomic force microscopy (nanoscience and technology) (4 Ergebnisse)

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  • Sprache: Englisch

    Verlag: Springer, 2002

    3540431179 / 9783540431176

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    Anbieter: Rotary Club of Albert Park, Albert Park, VIC, AustralienRotary Club of Albert Park

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    Hardcover. Zustand: As New. 439 pages. 8vo. As now copy of this book giving a comprehensive overview of the state-of-the-art of this dynamic force microscopy technique.

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Springer, 2002

    3540431179 / 9783540431176

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  • Sprache: Englisch

    Verlag: Springer, 2002

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    Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of acantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues. …

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Springer Verlag, 2002

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    Hardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 439 pages. 9.25x6.25x1.00 inches. In Stock.