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9783540319146 - Microscopy of Semiconducting Materials: Proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK (Springer Proceedings in Physics, Band 107) (4 Ergebnisse)
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Microscopy of Semiconducting Materials
Buch 13 von 166: Springer Proceedings in PhysicsAnbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Microscopy of Semiconducting Materials: Proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK (Springer Proceedings in Physics, 107)
Buch 13 von 166: Springer Proceedings in PhysicsAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Microscopy of Semiconducting Materials
Buch 13 von 166: Springer Proceedings in PhysicsSprache: Englisch
Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2006
ISBN 10: 354031914X ISBN 13: 9783540319146
EUR 227,74
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In den WarenkorbZustand: New. Epitaxy: Wide Band-Gap Nitrides.- Structural properties of GaN quantum dots.- Stranski-Krastanov growth for InGaN/GaN: wetting layer thickness changes.- Investigation of InxGa1?x N islands with electron microscopy.- First stage of nucleation of GaN on (0001.
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Microscopy of Semiconducting Materials : Proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK
Buch 13 von 166: Springer Proceedings in PhysicsSprache: Englisch
Verlag: Springer, Berlin, Springer, 2006
ISBN 10: 354031914X ISBN 13: 9783540319146
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - Epitaxy: Wide Band-Gap Nitrides.- Epitaxy: Silicon-Germanium Alloys.- Epitaxy: Growth and Defect Phenomena.- High Resolution Microscopy and Nanoanalysis.- Self-Organised and Quantum Domain Structures.- Processed Silicon and Other Device Materials.- Device Studies.- Scanning Electron and Scanning Probe Advances.
