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9783540232360 - Progress in Nano-Electro Optics IV: Characterization of Nano-Optical Materials and Optical Near-Field Interactions (Springer Series in Optical Sciences, 109, Band 1... (3 Ergebnisse)
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Progress in nano-electro-optics; Teil: 4., Characterization of nano-optical materials and optical near-field interactions. Springer series in optical sciences ; 109.
Buch 26 von 235: Springer Series in Optical SciencesSprache: Englisch
Verlag: Berlin ; Heidelberg ; New York ; Hong Kong ; London ; Milan ; Paris ; Tokyo : Springer,, 2005
ISBN 10: 3540232362 ISBN 13: 9783540232360
Anbieter: Versandantiquariat buch-im-speicher, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
8°, Org.-Pappb. ; Zustand: Gut. XIV, 206 S. : Mit 123 graph. Darst.; Einband an einer Ecke etwas bestoßen, innen sehr sauber. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
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Progress in Nano-Electro Optics IV: Characterization of Nano-Optical Materials and Optical Near-Field Interactions (Springer Series in Optical Sciences, 109)
Buch 26 von 235: Springer Series in Optical SciencesAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Progress in Nano-Electro Optics IV.Vol.4
Buch 26 von 235: Springer Series in Optical SciencesSprache: Englisch
Verlag: Springer, Berlin, Springer, 2005
ISBN 10: 3540232362 ISBN 13: 9783540232360
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware - This volume focuses on the characterization of nano-optical materials and optical near-field interactions. It begins with the techniques for characterizing the magneto-optical Kerr effect and continues with methods to determine structural and optical properties in high-quality quantum wires with high spatial uniformity. Further topics include: near-field luminescence mapping in InGaN/GaN single quantum well structures in order to interpret the recombination mechanism in InGaN-based nano-structures; and theoretical treatment of the optical near field and optical near-field interactions, providing the basis for investigating the signal transport and associated dissipation in nano-optical devices. Taken as a whole, this overview will be a valuable resource for engineers and scientists working in the field of nano-electro-optics.
