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9783540133599 - Novel Application of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for structural Characterization of Disordered Materials (Lecture Notes in Physics) (Lecture Notes in Phy... (9 Ergebnisse)
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Novel Applications of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for Structural Characterization of Disordered Materials Lecture Notes in Physics, 204
Anbieter: books4less (Versandantiquariat Petra Gros GmbH & Co. KG), Welling, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Broschiert. Zustand: Gut. 183 Seiten; Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten Bibliothek und kann die entsprechenden Kennzeichnungen aufweisen (Rückenschild, Instituts-Stempel.); der Buchzustand ist ansonsten ordentlich und dem Alter entsprechend gut. In ENGLISCHER Sprache. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 325.
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Novel Application of Anomalous (Resonance) X-Ray Scattering for Structural Characterization of Disordered Materials
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 32,02
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In den WarenkorbZustand: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,500grams, ISBN:3540133593.
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Novel application of anomalous (resonance) X-ray scattering for structural characterization of disordered materials. Lecture notes in physics; 204.
Anbieter: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Softcover. Ex-library in GOOD condition with library-signature and stamp(s). Some traces of use. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. C-00467 3540133593 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
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Novel Application of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for structural Characterization of Disordered Materials (Lecture Notes in Physics, 204)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 59,91
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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Novel Application of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for Structural Characterization of Disordered Materials, bearbeitet von H. Araki, J. Ehlers, K. Hepp, R. Kippenhahn, H.A. Weidenmüller und J. Zittartz
Sprache: Englisch
Verlag: Berlin, Springer (= Lecture Notes in Physics, Band 204) 1984, 1984
ISBN 10: 3540133593 ISBN 13: 9783540133599
Anbieter: Antiquariat Orban & Streu GbR, Frankfurt am Main, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Erstausgabe
Erstausgabe, 8°, 183 S., mit zahlreichen s/w-Abbildungen, Text: englisch, farbig illustr. original Kartonage (Paperback), Namens- und Datumsvermerk auf der Titelseite, innen leichte papierbedingte Nachdunklung, sonst ein schönes, sauberes Exemplar. Abholung im Ladengeschäft in Frankfurt am Main (Nordend ggü. Musterschule) möglich. Das spart die Portokosten. Pickup at the store in Frankfurt am Main (Nordend, close to Musterschule) is possible. It saves the shipping costs.
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Novel Application of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for Structural Characterization of Disordered Materials.
Sprache: Englisch
Verlag: Berlin, Springer Berlin Heidelberg, 1984
ISBN 10: 3540133593 ISBN 13: 9783540133599
Anbieter: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Softcover. 186 S. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. 3540133593 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
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Novel Application of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for structural Characterization of Disordered Materials (Lecture Notes in Physics)
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 76,27
EUR 11,53 Versand
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. spiral-bound edition. 192 pages. 9.26x6.11x0.45 inches. In Stock.
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | A brief background of the present requirement for structural characterization of disordered materials.- Fundamental relationships between rdf and scattering intensity.- Definition of partial structure factors and compositional short range order (CSRO).- Experimental determination of partial structural functions.- Nature of anomalous x-ray scattering and its application for structural analysis of disordered materials.- Theoretical aspects on the anomalous dispersion factors of x-rays.- Experimental determination of the anomalous dispersion factors.- Selected examples of structural determination using anomalous (resonance) x-ray scattering.- Relative merits of anomalous x-ray scattering and its future prospects.
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Novel Application of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for structural Characterization of Disordered Materials
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Springer Berlin Heidelberg, 1984
ISBN 10: 3540133593 ISBN 13: 9783540133599
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - A brief background of the present requirement for structural characterization of disordered materials.- Fundamental relationships between rdf and scattering intensity.- Definition of partial structure factors and compositional short range order (CSRO).- Experimental determination of partial structural functions.- Nature of anomalous x-ray scattering and its application for structural analysis of disordered materials.- Theoretical aspects on the anomalous dispersion factors of x-rays.- Experimental determination of the anomalous dispersion factors.- Selected examples of structural determination using anomalous (resonance) x-ray scattering.- Relative merits of anomalous x-ray scattering and its future prospects.
