Isbn: 9783030415358 - yield-aware analog ic design and optimization in nanometer-scale technologies (3 Ergebnisse)
Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies
Canelas, António Manuel Lourenço; Guilherme, Jorge Manuel Correia; Horta, Nuno Cavaco Gomes
- Hardcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 116,14
EUR 13,14 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. In English.
- Hardcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 154,54
EUR 14,55 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
Hardcover. Zustand: Brand New. 260 pages. 9.25x6.10x0.63 inches. In Stock.
- Hardcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 151,73
EUR 30,50 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book presents a new methodology with reduced time impact to address the problem of analog integrated circuit (IC) yield estimation by means of Monte Carlo (MC) analysis, inside an optimization loop of a population-based algorithm. The low time impact on the overall optimization processes enables IC designers to perform yield optimization with the most accurate yield estimation method, MC simulations using foundry statistical device models considering local and global variations. The methodology described by the authors delivers on average a reduction of 89% in the total number of MC simulations, when compared to the exhaustive MC analysis over the full population. In addition to describing a newly developed yield estimation technique, the authors also provide detailed background on automatic analog IC sizing and optimization.…
