Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies

Sprache: Englisch

Verlag: Springer, 2020

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Titel
Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies
Autor
Canelas, António Manuel Lourenço (Author)/ Guilherme, Jorge Manuel Correia (Author)/ Horta, Nuno Cavaco Gomes (Author)
Verlag
Springer
Veröffentlichungsjahr
2020
Zustand
Brand New
Einband
Hardcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
303041535X
ISBN-13
9783030415358
Artikelgewicht
0,56 Kilogramm

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