ISBN: 9781493966745 - scanning electron microscopy and x-ray microanalysis (3 Ergebnisse)

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Michael, Joseph R.; Ritchie, Nicholas W.M.; Scott, John Henry J.; Joy, David C.
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Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis
Goldstein, Joseph/ Newbury, Dale/ Joy, David C./ Michael, Joseph/ Ritchie, Nicholas W. M.
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Hardcover. Zustand: Brand New. 4th edition. 550 pages. 11.25x8.50x1.50 inches. In Stock.