Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis

Sprache: Englisch

Verlag: Springer Verlag, 2017

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4th edition. 550 pages. 11.25x8.50x1.50 inches. In Stock.

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Titel
Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis
Autor
Goldstein, Joseph/ Newbury, Dale/ Joy, David C./ Michael, Joseph/ Ritchie, Nicholas W. M.
Verlag
Springer Verlag
Veröffentlichungsjahr
2017
Zustand
Brand New
Einband
Hardcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
149396674X
ISBN-13
9781493966745
Ausgabe
4. Auflage
Artikelgewicht
1,98 Kilogramm

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