ISBN: 9781493901197 - materials and reliability handbook for semiconductor optical and electron devices (4 Ergebnisse)

ISBN: 
Mit der Detailsuche verfeinern

Optimieren Sie Ihre Suche

  • Bücher (4)

  • Neu (4)

bis

Benutzerdefinierte Preisspanne (EUR)

bis

  • Weitere Bilder

    Sprache: Englisch

    Verlag: Springer, 2014

    1493901192 / 9781493901197

    • Softcover

    Anbieter: preigu, Osnabrück, Deutschlandpreigu

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 274,65

    EUR 70,00 Versand 
    Versand von Deutschland nach USA

    Anzahl: 5 verfügbar

    Taschenbuch. Zustand: Neu. Materials and Reliability Handbook for Semiconductor Optical and Electron Devices | Osamu Ueda (u. a.) | Taschenbuch | xvi | Englisch | 2014 | Springer | EAN 9781493901197 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. …

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Springer, 2014

    1493901192 / 9781493901197

    • Softcover

    Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 351,09

    EUR 13,40 Versand 
    Versand von Vereinigtes Königreich nach USA

    Anzahl: Mehr als 20 verfügbar

    Zustand: New. In English.

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Springer, 2014

    1493901192 / 9781493901197

    • Softcover

    Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 358,67

    EUR 35,00 Versand 
    Versand von Deutschland nach USA

    Anzahl: 1 verfügbar

    Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Materials and Reliability Handbook for Semiconductor Optical and Electron Devices provides comprehensive coverage of reliability procedures and approaches for electron and photonic devices. These include lasers and high speed electronics used in cell phones, satellites, data transmission systems and displays. Lifetime predictions for compound semiconductor devices are notoriously inaccurate due to the absence of standard protocols. Manufacturers have relied on extrapolation back to room temperature of accelerated testing at elevated temperature. This technique fails for scaled, high current density devices. Device failure is driven by electric field or current mechanisms or low activation energy processes that are masked by other mechanisms at high temperature. The Handbook addresses reliability engineering for III-V devices, including materials and electrical characterization, reliability testing, and electronic characterization. These are used to develop new simulation technologies for device operation and reliability, which allow accurate prediction of reliability as well as the design specifically for improved reliability. The Handbook emphasizes physical mechanisms rather than an electrical definition of reliability. Accelerated aging is useful only if the failure mechanism is known. The Handbook also focuses on voltage and current acceleration stress mechanisms.…

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Springer Verlag, 2014

    1493901192 / 9781493901197

    • Softcover

    Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 467,39

    EUR 14,84 Versand 
    Versand von Vereinigtes Königreich nach USA

    Anzahl: 2 verfügbar

    Paperback. Zustand: Brand New. 632 pages. 9.25x6.10x1.42 inches. In Stock.