9781493300860 - vlsi test principles and architectures: design for testability (1 Ergebnisse)

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VLSI Test Principles and Architectures
Wang, Laung-Terng/ Wu, Cheng-Wen/ Wen, Xiaoqing
Sprache: Englisch
Verlag: Morgan Kaufmann 2006
1493300865 / 9781493300860
- Softcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
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Paperback. Zustand: Brand New. 1st edition. 808 pages. 9.35x7.50x1.83 inches. In Stock.