9781461363798 - statistical modeling for computer-aided design of mos vlsi circuits (the springer international series in engineering and computer science, band 211) von michael, christopher; ismail, mohammed (3 Ergebnisse)

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      Zustand: New. As MOS devices are scaled to meet increasingly demanding circuit specifications, process variations have a greater effect on the reliability of circuit performance. For this reason, statistical techniques are required to design integrated circuits with m.

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      Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware - As MOS devices are scaled to meet increasingly demanding circuit specifications, process variations have a greater effect on the reliability of circuit performance. For this reason, statistical techniques are required to design integrated circuits with maximum yield. Statistical Modeling for