Christopher michael mohammed ismail (4 Ergebnisse)
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Zustand: New. As MOS devices are scaled to meet increasingly demanding circuit specifications, process variations have a greater effect on the reliability of circuit performance. For this reason, statistical techniques are required to design integrated circuits with m.
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Gebunden. Zustand: New. As MOS devices are scaled to meet increasingly demanding circuit specifications, process variations have a greater effect on the reliability of circuit performance. For this reason, statistical techniques are required to design integrated circuits with m.
