ISBN: 9781461360049 - testability concepts for digital ics: the macro test approach (frontiers in electronic testing, band 3) (1 Ergebnisse)

von F. P. M. BeenkerBuch 1 von 40 – Frontiers in Electronic Testing

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Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach (Frontiers in Electronic Testing, 3)
Beenker, F.P.M.; Bennetts, R.G.; Thijssen, A.P.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2012
1461360048 / 9781461360049
Serie: Buch 1 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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