Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach (Frontiers in Electronic Testing)

Buch 1 von 40: Frontiers in Electronic Testing

Beenker, F.P.M.; Bennetts, R.G.; Thijssen, A.P.

ISBN 10: 1461360048 ISBN 13: 9781461360049
Verlag: Springer, 2012
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Softcover

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