9781402032073 - introduction to advanced system-on-chip test design and optimization (frontiers in electronic testing, 29, band 29) von larsson, erik (3 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2005
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 7 von 40. Buch 7 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
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gebundene Ausgabe. Zustand: Gut. 388 Seiten; Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten wissenschaftlichen Bibliothek und trägt die entsprechenden Kennzeichnungen (Rückenschild, Instituts-Stempel.); Schnitt und Einband sind etwas staubschmutzig; der Buchzustand ist ansonsten ordentlich und dem Alter entsprechend g…ut. Text in ENGLISCHER Sprache! Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 860.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2005
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Verlag: Springer US, Springer US 2005
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- Hardcover
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. It gives an introduction to testing, describes the problems related to SOC testing, discusses the modeling granularity and the impleme…ntation into EDA (electronic design automation) tools. The book is divided into three sections: i) test concepts, ii) SOC design for test, and iii) SOC test applications. The first part covers an introduction into test problems including faults, fault types, design-flow, design-for-test techniques such as scan-testing and Boundary Scan. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling. Finally, the third part focuses on SOC applications, such as integrated test scheduling and TAM design, defect-oriented scheduling, and integrating test design with the core selection process.
