Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. It gives an introduction to testing, describes the problems related to SOC testing, discusses the modeling granularity and the implementation into EDA (electronic design automation) tools. The book is divided into three sections: i) test concepts, ii) SOC design for test, and iii) SOC test applications. The first part covers an introduction into test problems including faults, fault types, design-flow, design-for-test techniques such as scan-testing and Boundary Scan. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling. Finally, the third part focuses on SOC applications, such as integrated test scheduling and TAM design, defect-oriented scheduling, and integrating test design with the core selection process.

Bestandsnummer des Verk�ufers 9781402032073

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Bibliografische Details

Titel: Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
Verlag: Springer US, Springer US
Erscheinungsjahr: 2005
Sprache: Englisch
ISBN-10: 1402032072
ISBN-13: 9781402032073
Einband: Buch
Zustand: Neu
Abmessungen: Breite: 241 mm, H�he: 160 mm, Tiefe: 27 mm
Gewicht: 776 Gramm

�ber diesen Titel

Inhaltsangabe

SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. It gives an introduction to testing, describes the problems related to SOC testing, discusses the modeling granularity and the implementation into EDA (electronic design automation) tools. The book is divided into three sections: i) test concepts, ii) SOC design for test, and iii) SOC test applications. The first part covers an introduction into test problems including faults, fault types, design-flow, design-for-test techniques such as scan-testing and Boundary Scan. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling. Finally, the third part focuses on SOC applications, such as integrated test scheduling and TAM design, defect-oriented scheduling, and integrating test design with the core selection process.

�ber die Autorin bzw. den Autor

Dr. Erik Larsson is an assistant professor at Link�pings University in Sweden, and he is an active member of the IEEE Testing and Circuits & Systems societies

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