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9780890066522 - Reliability and Degradation of III-V Optical Devices (Artech House Optoelectronics Library) von Ueda, Osamu (4 Ergebnisse)
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Reliability and Degradation of III-V Optical Devices (Artech House Optoelectronics Library)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbZustand: New. Über den AutorOsamu Ueda is a senior researcher at Fujitsu Laboratories Ltd., Japan. He earned his Ph.D. in physical engineering from the University of Tokyo. Dr. Ueda has written more than 100 professional papers and is a member of.
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 372 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Reliability and Degradation of III-V Optical Devices
Sprache: Englisch
Verlag: Artech House Publishers Sep 1996, 1996
ISBN 10: 0890066523 ISBN 13: 9780890066522
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware - Focusing on helping researchers and engineers involved in III-V compound semiconductor thin film growth and processing, this text shows the mechanism of degradation, detailing the major degradation modes of optical devices fabricated from three different systems, and describing methods for elimination of defect-generating mechanisms.
