9780890066522 - reliability and degradation of iii-v optical devices (artech house optoelectronics library) von ueda, osamu (5 Ergebnisse)
- Hardcover
Anbieter: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, USAThriftBooks-Atlanta
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Gut
EUR 99,40
Versand nach gratisVersand innerhalb von USAAnzahl: 1 verfügbar
Hardcover. Zustand: Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
- Hardcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 152,15
EUR 13,98 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. In.
- Weitere Bilder
- Hardcover
Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 147,77
EUR 48,99 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. Über den AutorOsamu Ueda is a senior researcher at Fujitsu Laboratories Ltd., Japan. He earned his Ph.D. in physical engineering from the University of Tokyo. Dr. Ueda has written more than 100 professional papers and is a member of.
- Hardcover
Anbieter: Buchpark, Trebbin, DeutschlandBuchpark
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Sehr gut
EUR 94,08
EUR 105,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 2 verfügbar
Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 372 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
- Weitere Bilder
- Hardcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 203,00
EUR 63,25 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 2 verfügbar
Buch. Zustand: Neu. Neuware - Focusing on helping researchers and engineers involved in III-V compound semiconductor thin film growth and processing, this text shows the mechanism of degradation, detailing the major degradation modes of optical devices fabricated from three different systems, and describing methods for eliminati…on of defect-generating mechanisms.


