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Reliability and Degradation of III-V Optical Devices (Artech House Optoelectronics Library) - Hardcover

Ueda, Osamu

 
9780890066522: Reliability and Degradation of III-V Optical Devices (Artech House Optoelectronics Library)
Hardcover
ISBN 10: 0890066523 ISBN 13: 9780890066522
Verlag: Artech House, 1996

Inhaltsangabe

Focusing on helping researchers and engineers involved in III-V compound semiconductor thin film growth and processing, this text shows the mechanism of degradation, detailing the major degradation modes of optical devices fabricated from three different systems, and describing methods for elimination of defect-generating mechanisms.

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Über die Autorin bzw. den Autor

Osamu Ueda is a senior researcher at Fujitsu Laboratories Ltd., Japan. He earned his Ph.D. in physical engineering from the University of Tokyo. Dr. Ueda has written more than 100 professional papers and is a member of the Society of Applied Physics, the Society of Electron Microscopy, the Electrochemical Society, and the Materials Research Society.

„Über diesen Titel“ kann sich auf eine andere Ausgabe dieses Titels beziehen.

Verlag
Artech House
Erscheinungsdatum
1996
Sprache
Englisch
ISBN 10 
0890066523
ISBN 13 
9780890066522
Einband
Gebundene Ausgabe
Anzahl der Seiten
353
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Nicht verfügbar
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