Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbZustand: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,400grams, ISBN:9780890064504.
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. InhaltsverzeichnisYield. Fault Probability. Effect of Defect Sizes on the Fault Probability. Counting Techniques. Yield Equations. Defect Density and Scaling Rules. Yield Prediction. Yield With Redundancy. A Yield Comparison. Productivit.
Sprache: Englisch
Verlag: Artech House Publishers Jul 1992, 1992
ISBN 10: 0890064504 ISBN 13: 9780890064504
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Buch. Zustand: Neu. Neuware - Introduction to Semiconductor Device Yield Modeling addresses the economic need for accurate yield prediction and clarifies the important role it plays in the semiconductor industry. Supported by over 225 equations, 18 figures, and 64 references.