Introduction to Semiconductor Device Yield Modeling (Artech House Materials Science Library) - Hardcover
Inhaltsangabe
This text, the first of its kind, delivers a systematically organized introduction to the theory and practice of yield prediction. The book addresses the economic need for accurate yield prediction, and clarifies the important role it plays in the semiconductor industry.
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Introduction to Semiconductor Device Yield Modeling
Verlag:
Artech House Publishers, 1992
ISBN 10: 0890064504
ISBN 13: 9780890064504
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Introduction to Semiconductor Device Yield Modeling (Artech House Materials Science Library)
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Introduction to Semiconductor Device Yield Modeling
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Artech House Publishers, 1992
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Introduction to Semiconductor Device Yield Modeling
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Zustand: New. InhaltsverzeichnisYield. Fault Probability. Effect of Defect Sizes on the Fault Probability. Counting Techniques. Yield Equations. Defect Density and Scaling Rules. Yield Prediction. Yield With Redundancy. A Yield Comparison. Productivit. Artikel-Nr. 898961606
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Introduction to Semiconductor Device Yield Modeling
Verlag:
Artech House Publishers Jul 1992, 1992
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - Introduction to Semiconductor Device Yield Modeling addresses the economic need for accurate yield prediction and clarifies the important role it plays in the semiconductor industry. Supported by over 225 equations, 18 figures, and 64 references. Artikel-Nr. 9780890064504
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