Isbn: 9780890062845 - (ipf)microelectronic reliability: test and diagnostics (artech house materials science library) (3 Ergebnisse)

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    Verlag: Artech House Publishers, 1989

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    Verlag: ARTECH HOUSE INC, 1989

    0890062846 / 9780890062845

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    Gebunden. Zustand: New. KlappentextText/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures.

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Artech House Jan 1989, 1989

    0890062846 / 9780890062845

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    Buch. Zustand: Neu. Neuware - Text/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures. Some of the new changes under development to cope with pressures brought.…