Microelectronic Reliability Vol. I: Test and Diagnostics (Artech House Materials Science Library) - Hardcover
Inhaltsangabe
Text/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures. Some of the new changes under development to cope with pressures brought
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Microelectronic Reliability Vol. I: Test and Diagnostics
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Gebunden. Zustand: New. KlappentextText/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures. Artikel-Nr. 898961510
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(Ipf)Microelectronic Reliability
Verlag:
Artech House Publishers Jan 1989, 1989
ISBN 10: 0890062846
ISBN 13: 9780890062845
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - Text/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures. Some of the new changes under development to cope with pressures brought. Artikel-Nr. 9780890062845
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