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9780890062845 - Microelectronic Reliability Vol. I: Test and Diagnostics (Artech House Materials Science Library) von Hakim, Edward B. (2 Ergebnisse)
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. KlappentextText/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures.
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(Ipf)Microelectronic Reliability
Sprache: Englisch
Verlag: Artech House Publishers Jan 1989, 1989
ISBN 10: 0890062846 ISBN 13: 9780890062845
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware - Text/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures. Some of the new changes under development to cope with pressures brought.
