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9780863417450 - Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-signal and RF Integrated Circuits: The System on Chip Approach (Circuits, Devices and Systems, Band 19) (5 Ergebnisse)
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Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits
Sprache: Englisch
Verlag: Institution of Engineering & Technology, 2008
ISBN 10: 0863417450 ISBN 13: 9780863417450
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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Internationale AusgabeTEST AND DIAGNOSIS OF ANALOGUE MIXED SIGNAL AND RF INTEGRATED CIRCUITS THE SYSTEM ON CHIP APPROACH (PB 2012)
Sprache: Englisch
Verlag: The Institution of Engineering and Technology, 2008
ISBN 10: 0863417450 ISBN 13: 9780863417450
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. Brand New. Soft Cover International Edition. Different ISBN and Cover Image. Priced lower than the standard editions which is usually intended to make them more affordable for students abroad. The core content of the book is generally the same as the standard edition. The country selling restrictions may be printed on the book but is no problem for the self-use. This Item maybe shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits
Sprache: Englisch
Verlag: INSTITUTION OF ENGINEERING & T, 2008
ISBN 10: 0863417450 ISBN 13: 9780863417450
EUR 125,96
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In den WarenkorbZustand: New. Über den AutorYichuang Sun is Professor at the University of Hertfordshire, UK. His research interests are in analogue and mixed-signal circuits, RF and communication circuits, circuit testing and fault diagnosis, coding and signal .
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Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-signal and RF Integrated Circuits: The System on Chip Approach
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 170,37
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Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 416 pages. 9.00x6.00x1.00 inches. In Stock.
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Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits : The System on Chip Approach
Sprache: Englisch
Verlag: Institution Of Engineering & Technology Mai 2008, 2008
ISBN 10: 0863417450 ISBN 13: 9780863417450
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware - This book provides a comprehensive discussion of automatic testing, diagnosis and tuning of analogue, mixed-signal and RF integrated circuits, and systems in a single source. The book reports systematically the state of the arts and future research directions of those areas.
