Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits

Sprache: Englisch

Verlag: INSTITUTION OF ENGINEERING & T, 2008

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&Uumlber den AutorYichuang Sun is Professor at the University of Hertfordshire, UK. His research interests are in analogue and mixed-signal circuits, RF and communication circuits, circuit testing and fault diagnosis, coding and signal .

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Titel
Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits
Verlag
INSTITUTION OF ENGINEERING & T
Erscheinungsjahr
2008
Zustand
New
Einband
Softcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
0863417450
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9780863417450

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