9780792372936 - on-chip inductance in high speed integrated circuits von ismail, yehea i.; friedman, eby g. (6 Ergebnisse)

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    • Sprache: Englisch

      Verlag: Springer, 2001

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    • Sprache: Englisch

      Verlag: Kluwer Academic Publishers, 2001

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      Zustand: New. Deals with the design and analysis of integrated circuits with a specific focus on on-chip inductance effects. This book is filled with design and analysis techniques for RLC interconnect. These techniques are compared to techniques traditionally used for RC interconnect design to emphasize the effect of inductance

    • Sprache: Englisch

      Verlag: Springer US, 2001

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      Zustand: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 332 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | The appropriate interconnect model has changed several times over the past two decades due to the application of aggressive technology scaling. New, more accurate interconnect models are required to manage the changing physical characteristics of

    • Sprache: Englisch

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      Zustand: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 332 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | The appropriate interconnect model has changed several times over the past two decades due to the application of aggressive technology scaling. New, more accurate interconnect models are required to manage the changing physical characteristics of

    • Sprache: Englisch

      Verlag: Springer US, Springer US, 2001

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      Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The appropriate interconnect model has changed several times over the past two decades due to the application of aggressive technology scaling. New, more accurate interconnect models are required to manage the changing physical characteristics of integrated

    • Sprache: Englisch

      Verlag: Springer US, 2001

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      Anbieter: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, DeutschlandBUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer

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      Hardcover. Zustand: gut. 2001. On-Chip Inductance in High Speed Integrated Circuits In englischer Sprache. pages.