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9780780310001 - Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability von Sharma, Ashok K. (13 Ergebnisse)
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Semiconductor Memories : Technology, Testing, and Reliability
Sprache: Englisch
Verlag: Wiley & Sons, Incorporated, John, 2002
ISBN 10: 0780310004 ISBN 13: 9780780310001
Anbieter: Better World Books, Mishawaka, IN, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Good. Former library copy. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Semiconductor Memories Technol
Anbieter: World of Books (was SecondSale), Montgomery, IL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Good. Item in good condition. Textbooks may not include supplemental items i.e. CDs, access codes etc.
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Semiconductor Memories Technol
Anbieter: World of Books (was SecondSale), Montgomery, IL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Very Good. Item in very good condition! Textbooks may not include supplemental items i.e. CDs, access codes etc.
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Anbieter: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: Fair. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In fair condition, suitable as a study copy. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1150grams, ISBN:9780780310001.
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 480 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Sprache: Englisch
Verlag: John Wiley & Sons 24.09.2002., 2002
ISBN 10: 0780310004 ISBN 13: 9780780310001
Anbieter: Vulkaneifel Bücher, Birgel, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Sehr gut. Auflage: 1. 480 Seiten kleine Lagerspuren am Buch, Inhalt einwandfrei und ungelesen Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1030 25,7 x 18,0 x 3,3 cm, Gebundene Ausgabe.
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Semiconductor Memories
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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In den WarenkorbHRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Semiconductor Memories provides in-depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods including.* Memory cell structures and fabrication technologies.* Application-specif.
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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 480 pages. 10.50x7.50x1.25 inches. In Stock.
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Semiconductor Memories
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
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In den WarenkorbZustand: New. Num Pages: 480 pages, illustrations. BIC Classification: UKS. Category: (UU) Undergraduate. Dimension: 258 x 183 x 29. Weight in Grams: 950. . 2002. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Semiconductor Memories : Technology, Testing, and Reliability
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - Semiconductor Memories provides in-depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods including.\* Memory cell structures and fabrication technologies.\* Application-specific memories and architectures.\* Memory design, fault modeling and test algorithms, limitations, and trade-offs.\* Space environment, radiation hardening process and design techniques, and radiation testing.\* Memory stacks and multichip modules for gigabyte storage.
